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本文標(biāo)題:如何使用偏光顯微鏡對(duì)晶體的形態(tài)進(jìn)行檢測(cè)

信息分類:站內(nèi)新聞　新聞來源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-9-24 11:10:22

如何使用偏光顯微鏡對(duì)晶體的形態(tài)進(jìn)行檢測(cè)

對(duì)于晶體物質(zhì)而言它的形成是具有一定的結(jié)晶習(xí)性的，

這樣才能夠構(gòu)成一定的形態(tài)結(jié)構(gòu)組織以及晶體的形狀和

大小。

而晶體的形成是與晶體的形成程度以及完整的程度和形

成條件和順序是相關(guān)的，密不可分的，而通常則可以形

成的晶體有自形晶體、半自形晶體和其它形狀的晶體。

所以說晶體的形貌形狀不僅僅是推斷晶體形成的條件，

而同時(shí)對(duì)于整個(gè)立體晶體的形態(tài)是需要使用偏光顯微鏡

進(jìn)行檢測(cè)其形態(tài)的。

通常情況下我們會(huì)利用偏光顯微鏡中的單偏光鏡進(jìn)行檢

測(cè)晶體的形成程度與規(guī)則程度。