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本文標(biāo)題:顯微觀察時(shí)對(duì)垂直一個(gè)光軸切片的干涉圖的檢測(cè)

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-9-23 11:27:48

顯微觀察時(shí)對(duì)垂直一個(gè)光軸切片的干涉圖的檢測(cè)

通常情況下我們通過(guò)所使用的檢測(cè)垂直一個(gè)光軸切片的

二軸晶體物質(zhì)的干涉圖與斜交光軸切片與平行光軸面切

片的二軸晶體物質(zhì)的干涉圖。

而對(duì)于斜交光軸切片二軸晶體物質(zhì)的干涉圖則是一種比

較最常見(jiàn)到的檢測(cè)晶體物質(zhì)垂直于光軸切片的現(xiàn)象。

同時(shí)對(duì)于二軸平行光軸面切片的圖像或是與一軸平行光

軸的切片則是一個(gè)相交的干涉圖像，這樣可以直接分辨

出視域區(qū)域。

而對(duì)于垂直一個(gè)光軸切片的物像成像則是一個(gè)相當(dāng)于垂

直于切片一半的干涉圖，它是與偏光顯微鏡中的上或是

下偏振動(dòng)方向是平行的才行。