本文標題:干涉顯微鏡對觀察的標本細微結(jié)構(gòu)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-4-21 15:02:20
干涉顯微鏡對觀察的標本細微結(jié)構(gòu)
干涉顯微鏡是觀察標本內(nèi)和相差顯微鏡內(nèi)同一種折射的
微細結(jié)構(gòu)，其利用的原理通過標本分離光束，這兩個光
束在影像平面中互相相重合。
其中光束集焦通過所觀察的微細結(jié)構(gòu)，而光束集焦在所
觀察微細結(jié)構(gòu)的側(cè)方或下方的空白區(qū)。
干涉顯微鏡可對延遲進行直接定量測定，并相對定量測
定折射率和標本厚度其影像與微細結(jié)構(gòu)大小無關(guān)。
這些測定可用于測量標本內(nèi)每單位面積，并繪出物體的
輪廓圖型。
將本頁加入收藏
下一篇：顯微鏡偏光性質(zhì)與所發(fā)生的雙折射性
上一篇：如何在顯微觀察下反映出二維圖像
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.sztecrb.cn/xinwen/1530.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
