正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。

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　　產品用途大平臺檢測顯微鏡是專為IT行業大面積集成電路，晶片的質量檢測而設計開發制造的，主體為正置式，三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗、失效分析等。

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